Le Research Center for Advanced Carbon Materials du National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST) et Hitachi High-Technology Corporation ont annoncé avoir développé l'appareil d'analyse qualitative le plus sensible au monde, rendant ainsi possible l'identification d'un seul atome.

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    Grâce à un microscope électronique à balayagemicroscope électronique à balayage par transmission (STEM) équipé d'une pointe d'une finesse avoisinant les 0,2 nm et une technique améliorée de spectroscopie par pertes d'énergie des électrons (Electron Energy Loss Spectrometry - EELS), une analyse a été effectuée sur un nanotube de carbone et a permis de localiser le type, la position et la quantité des impuretés avec une précision à l'échelle de l'atome.

    Ce nouvel appareil permet une analyse au niveau atomique grâce à la forte densité de courant délivrée par la pointe du STEM et grâce à la sensibilité de détection du EELS améliorée par un capteurcapteur spécialement développé.

    Ce nouvel équipement est d'une importance fondamentale en tant que technologie générique pour les nanotechnologiesnanotechnologies en général. Il sera particulièrement utile pour l'analyse des nanotubes de carbone dont les propriétés sont affectées par la présence et la trace de différents éléments, pour la détection d'impuretés dans les matériaux semi-conducteurssemi-conducteurs et pour l'identification moléculaire des biopolymères. Ainsi le succès de l'identification atomique ouvrira la voie au développement de nano dispositifs et matériaux nécessitant un contrôle exact de la quantité d'impuretés ou de dopants.